对膜元件破坏性分析发现:黑色粘稠液体流出。整个膜元件内部完全被污染,膜叶之间(进水流道)布满黑色粘稠物质。无臭味,排除生物污染,确认为无机污染物严重污堵进水流道导致的高压降所致。
•现象和症状:
–系统脱盐率大幅下降,有时候伴随产水量增加。
–膜元件解剖后,膜表面出现气泡和分层
•原因:
–系统设计缺陷,例如产水管道上的止回阀安装位置不合理。
–不正确的操作,例如清洗完毕后忘记开启产水阀门。
–不可预测的机械故障
•清洗或解决方案:
–膜元件被不可恢复性的损伤,难以修复,只能更换膜元件。
8产水背压
产水管道上安装截止阀,操作人员在系统清洗过程中关闭此截止阀,清洗关闭完毕后忘记开启,随后停机后重新启动系统,发现系统脱盐率下降。
产水背压损坏的膜表面通常看到平行于产水管的膜最外边出现拆痕,常常靠近最外侧的膜袋粘接线处。膜的破裂最有可能出现在进水侧、最外侧和浓水侧这三处粘接密封线附近,其他位置受到进水网络地支撑,很多网格的小格内就会出现很多气泡状剥离和分层
为了预防产水背压,可以采用以上两种措施:在产水管道的合理安装止回阀,或三向阀。
现象和症状:
–系统脱盐率大幅下降,有时候伴随产水量增加。
–膜元件解剖后,膜表面出现气泡和分层
•原因:
–系统设计缺陷,例如产水管道上的止回阀安装位置不合理。
–不正确的操作,例如清洗完毕后忘记开启产水阀门。
–不可预测的机械故障
•清洗或解决方案:
–膜元件被不可恢复性的损伤,难以修复,只能更换膜元件。
9膜氧化
遭氧化伤害的膜元件采用真空试验等机械的方法是检测不出来的,这类化学性的伤害,可通过对膜元件或其中的小片膜样品经过Fujiwara试验评测显示出来,如Fujiwara实验中实验溶液变成粉红色,证明膜片已被氧化。
膜氧化(由余氯导致)
原子光谱化学分析法(ESCA):
未经污染或氧化的新膜片应该仅由C,O,N和H组成,没有其它元素。对于使用过的膜片,可以通过分析膜材料中的增加的元素种类和含量,来确定膜片是否被氧化或污染。原子光谱化学分析法(ESCA)证明膜片被氯氧化
现象和症状:
–系统脱盐率大幅下降,同时伴随产水量增加。
–膜元件解剖后,Fujiwara实验中实验溶液变成粉红色,原子光
谱化学分析法(ESCA)发现氯元素。
•原因:
–RO系统前的脱氯措施出现问题,例如,活性炭失效或NaHSO3
量不足。
–膜元件接触到强氧化剂。
•清洗或解决方案:
–膜元件被不可恢复性的损伤,难以修复,只能更换膜元件。
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